XRF分析是一种成熟、值得信赖的一种技能，可用于丈量从珠宝到工程设备等各种部件的镀层厚度。作为质量控制流程的一个关键部分，您很可能会依靠XRF的测验成果来控制流程，并在发货前测验制品部件的质量。
然而，尽管XRF是一种牢靠的技能，但它也很简单得到过错成果，尤其是关于镀层厚度丈量。在这篇文章中，我们将讨论您的XRF丈量犯错的原因，以及您能够采纳的预防措施。
XRF测量错误的源头
一般来说，测量出错有两种原因：要么您的仪器有问题，要么您的测量方法有问题。我们先来看看仪器方面的问题。
怎么保证您的XRF作业正常。
XRF分析仪是一种精密仪器，在其运用期内–从您完成常规查看到制造商年检都需求当心运用。这是您保证XRF供给正确效果所需的必要作业。
*常规仪器查看 常规仪器查看由操作员依照制造商主张的时间间隔进行。此类查看会监测仪器的内部功用，如X射线探测器强度、探测器分辨率和探测器增益。假设发现纤细改动，仪器会自动进行调整。而假设改动超出预期，您的分析仪会发出警报，此刻需求联络制造商。遵循制造商主张的查看间隔是很重要的——假设时间间隔太长，就会失掉发现纤细改动的机会，假设时间间隔太短，分析仪可能会过度纠正，因而也可能带来差错。
*校准 进行常规仪器查看之后，在运用XRF分析仪进行质量控制之前，您需求验证您的校准。您能够运用已知的出产零件或参看样（也称为规范样）。重要的是，此类参看样须从经认证的供货商处购买，更好定期由ISO17025认可实验室对其进行从头认证。
*仪器认证 作为仪器年检的一部分，主张您让原始制造商对您的XRF分析仪进行从头认证，保证敏感部件正常作业。这通常由专业工程师进行，其将进行全面诊断并提出相应主张。
可能导致差错的剖析错误
即便运用设置完美的仪器，在进行测量时，还会有其他因素可能导致过错。
*未实行样品对焦 保证样品被正确对焦是测量过程中的一个关键步骤。保证X射线管、样品和探测器彼此之间的距离固定，这对于准确的镀层厚度成果至关重要。假如X射线管、样品和探测器彼此之间的距离太大，则镀层会变薄，反之亦然。假如您要测量多层镀层，过错就会叠加。
*基底变化 基底内的其他元素会搅扰镀层间的X射线相互作用。这意味着产生的X射线信号与正确的镀层厚度无法相关。好在目前这种影响已被充分认识了解，所以假如您运用与您的实际基底十分相似的资料进行校准，则可补偿这种影响。本质上，您的基底资料需与您的校准参阅样十分相似。
*超出校准规模的测量 您仪器的校准是针对有限规模内的镀层厚度和成分进行优化。在较大规模内，镀层厚度和X射线强度之间的联系不是线性的，因此您不能保证在仪器校准规模之外也取得可靠的成果。您的XRF制造商可以告诉您校准的测验极限，而且您也可以在软件上设置正告，假如测量值超出“安全”规模，就会提醒操作员，如此您可以保证一直在校准极限规模内进行测量。
