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日立紫外新品 UH4150AD+正式发售

2022-07-14
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产品开发背景

近年来,近红外相机和传感器等产品被广泛应用于先进科技领域,所涉及到的波长范围(800~1700nm)也是人眼所不能观察到的。特别是应用于技术需求越来越先进、适用面越来越广泛的产品。例如:初期用于自动驾驶、智能手机的LiDAR*1遥感技术,后续开发的在黑暗条件下(如夜间)也能拍摄的夜视摄像机、为提高安全性的人脸识别、虹膜和静脉识别、以及因5G需求不断增加的光通信等。

随着光学设备性能的提高,需要能够满足高精度测量光学元件光谱特性(如镜片的吸光度、透射比和反射比等)的仪器。由于大部分光学元件具有带通功能,即通过光学薄膜或光吸收剂仅传输特定波长并切割不需要的波长范围,为了高精度地实现此功能,需要扩大评价指标之一的测光范围*2。

分光光度计是一种将光照射到样品上,测量样品在不同光束下吸光度和透射比的设备。UH4150AD+(Advanced Spec Plus),延续了测量光学元件光谱特性的经典型号UH4150系列,并且提升了其在近红外区域光谱特性的测量性能,成为在先端行业很流行的测量光学元件的理想设备。通过推出UH4150AD+,我们进一步丰富了多年来一直保持日本更大市场份额*3的分光光度计产品线,并通过提供最适合客户需求的解决方案,为先进工业领域的可持续增长做出贡献。

UH4150AD+ 的主要特点

1、支持近红外区域的测光范围 7Abs

用于最新相机和传感器的带通滤波器含有遮光性能低于 6 Abs(透射率 0.0001%)至 7 Abs(透射率 0.00001%)的光学薄膜。该产品通过改进低透射率测光时的信号处理,支持近红外区域的透射率为之前的1/100的7 Abs 的测光范围。使得即使在以前无法测量的近红外区域的微弱透射率条件下也能进行高精度测量。

2、配备全新高灵敏度冷却型InGaAs半导体检测器

本次的新产品安装了更灵敏的冷却型InGaAs*4半导体检测器。与之前的型号*5相比,在低透射率下实现有效的低噪声测量,从而能够获得高精度的测量数据。

3、延续平行光束光学系统

由于相机的镜头光学系统采用平行光线设计,因此对于光学元件的评价设备来说:入射光的平行度很重要。本产品采用深受好评已久的近似平行光束,确保透射和反射测量的入射角,从而实现高精度的反射测量。

日立高新技术集团今后也将继续以分析技术为基础,快速响应客户的先进需求,通过开发和提供专注于客户个性化和复杂化问题的设备,努力创造社会和环境价值,以创造出专门针对专有领域的解决方案,并扩大全球业务。

*1 LiDAR:使用近红外光的远程传感技术对近红外的激光进行脉冲照射,通过不同时间对其反射光进行检测,将反射光与远处照射对象的距离等进行3D图像展示的技术

*2 測光范围:用吸光度(Abs : Absorbance) 或者光密度(OD : Optical Density)进行表示。增加 1 Abs透过率降低一位数。(0 Abs=透过率, 1 Abs=透过率10%, ・・・ 7 Abs=透过率0.00001%)

*3《2020年科学仪器年鉴》(阿尔安迪公司出版)调查(高端紫外可见分光光度计)

*4 InGaAs:铟/镓/砷化合物

*5 之前的型号:UH4150AD 紫外可见近红外分光光度计

*6 PbS:硫化铅化合物

UH4150AD+的规格

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