新型EA1280具有中国标准（GB标准）建议要求的检测器分辨率，相比于Si - PIN二极管等其他半导体检测器，其工作效率和分析准确度更高。尤其与其他分析方法相比，X射线荧光分析可提供快速、无损、简单的元素分析，因此其持续多次用于RoHS合规性筛查中。
1. 使用新型高性能半导体检测器（硅漂移检测器（SDD）），便于提高测试工作效率和获得更可靠结果。
2. 采用同轴光学器件进行样品观察和辐照X射线，便于分析各种样品。
3. 配备易用软件，便于操作员仅需接受简单的质量控制和过程控制培训即可使用分析仪。
型号 EA1280 测量元素范围 13Al～ 92U 准直器（分析光斑尺寸） 5 mmΦ（1、3 mmΦ：可选） 初级滤波器（用于优化性能） 5种模式（4台滤波器+关闭）自动切换 样品舱 环境大气 检测器 高性能SDD 分析仪尺寸 520（宽）×600（深）×445（高）mm 重量 约69 kg 样品舱尺寸 304（宽）×304（深）×110（高）mm EA1280是加入日立 EA1000系列分析仪的最新型号，具备强大的分析能力，能满足广泛的测试要求。EA1280 技术规格
