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X射线荧光测量仪FT160

2022-01-04
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X射线荧光测量仪FT160

详细介绍

FT160系列镀层测厚仪介绍:

FT160系列镀层测厚仪旨在应对超薄镀层的挑战,例如当今不断缩小的电子元器件的镀层。其提供快速、准确和可重复的结果,有校提高生产力,同时减少PCB、半导体和微型接口等元器件上镀层不合规所带来的成本浪费。FT160系列镀层测厚仪易于使用、可轻松集成质量保证/质量控制流程,在问题引发危机之前及时发出提醒。


FT160系列镀层测厚仪采用了新款高分辨率样品观察相机和改进的照明,样品的预览和测量点的选择变得更加清晰和简便。



FT160系列镀层测厚仪特点:

1、高性能XRF镀层测厚仪,适用于超小部件上的超薄镀层分析;

2、使用多毛细管光学聚焦系统,光斑尺寸<50um;

3、数秒间测试纳米级镀层厚度;

4、简单易用的操作软件;

5、强大的数据处理能力。



FT160系列镀层测厚仪适用的厚度范围:

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FT160系列镀层测厚仪-XRF结构:

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FT160系列镀层测厚仪强大功能使其成为实验室的理想选择:

有着安排紧凑的工作流程,但精度、多功能性和效率是维持此工作流程正常运转的必备要素,



FT160旨FT在应对超薄镀层的挑战,例如当今不断缩小的电子元器件的镀层。其提供快速、准确和可重复的结果,有效提高生产力,同时减少PCB、半导体和微型接口等元器件上镀层不合规格所带来的成本浪费。FT160易于使用、可轻松集成质量保证/质量控制流程,在问题引发危机之前及时发出提醒。FT160旨在应对超薄镀层的挑战,例如当今不断缩小的电子元器件的镀层。其提供快速、准确和可重复的结果,有效提高生产力,同时减少PCB、半导体和微型接口等元器件上镀层不合规格所带来的成本浪费。FT160易于使用、可轻松集成质量保证/质量控制流程,在问题引发危机之前及时发出提醒。