株式会社日立高新技术（以下简称“日立高新技术”，所属于株式会社日立制作所的Connective 2025 年12月19日 株式会社日立高新技术 Industries（CI）事业部门）发布了一款120 kV透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，以下简称为“TEM”）HT7800Ⅱ，该显微镜在多个领域中，可高质量、高重复性地采集数据，同时亦可提高观察工作的效率。
HT7800Ⅱ不但延续了前代机型HT7800系列高分辨率、高对比度的性能以及卓越的操作性这些核心优势，还进一步强化了自动化功能。通过将日常调整、设置操作和图像采集等流程自动化，支持用户的多种观察环境，满足用户需求，助力用户完成高质量、高效率的观察工作。
在日立高新技术所属的CI事业部门，正致力于提供数字化服务“工业领域的HMAX”，该服务结合了庞大用户群体的数据（数字化资产）、领域知识及先进人工智能。作为CI事业部門的一员，日立高新技术推出HT7800Ⅱ，将其作为数据获取与生成的数字化资产，助力将体现Lumada 3.0理念的数字化服务“工业领域的HMAX”向医疗健康研究、材料开发等于增长型产业横向应用，推动“集成工业自动化（Integrated Industry Automation）”，为一线員工的创新实践提供支持。
一、HT7800Ⅱ的开发背景
TEM作为用于观察物质内部结构的设备，已广泛应用于多个领域。其中，120 kV的TEM尤其在医学、生物学领域的研究与诊断方面，以及高性能材料的研发等方面发挥着重要作用。近年来，TEM的应用领域已延伸至学术科研、医疗及检测机构，用户群体也从专业的操作人员扩展至初学者，呈现出多样化特点。此外，随着AI及数据驱动型研究与解析的快速发展，海量数据的采集与解析需求也日益增长，用户对产品的需求不仅限于观察性能，更希望可简捷高效地完成观察工作。
本次发布的HT7800Ⅱ强化了自动化功能，可减轻用户日常观察工作的负担。无论用户是否具备TEM操作的专业知识，均可高效、稳定地采集高质量数据，从而提升多领域研究与检测的工作效率。
二、HT7800Ⅱ的主要特点
1、一台设备即可实现，高对比度与高分辨率观察
设备延续了前代机型搭载的日立独创复合物镜，通过单一物镜即可设置高对比度模式（长焦距）与高分辨率模式（短焦距）。高对比度模式适用于生物组织、高分子材料等需要大视野、高对比度观察的解析场景；高分辨率模式则适用于纳米颗粒、碳材料、病毒等需要高倍率、高分辨率观察的场景。用户可根据观察样品的特性及观察目的，一键轻松切换模式，一台HT7800Ⅱ设备即可灵活满足多样化的解析需求。
2、通过直观操作与多元自动化辅助功能，实现稳定性，提高工作效率
设备采用GUI界面，将从视野搜索到拍摄的全流程操作整合于同一个监视器上，相机切换、倍率设置等操作均可直观、轻松完成，各类用户均可轻松开展观察工作。
此外，本系列将用于辅助调节电子束的“自动电子束调节功能”作为标准配置。电子束的调节是直接影响采集数据质量的重要环节，以往需要根据样品和条件，凭借用户的知识和经验，花费大量时间手动完成。
而此次新增的一键自动调节功能，不仅提升了调节效率，更保障了数据的稳定性，使无TEM专业知识的用户也能采集到高质量数据。此外，设备可搭载自动化支持软件“EM Flow Creator”，该软件能根据观察工作的流程，灵活构建包含设置、调节等一系列操作在内的定制化方案。这些自动化功能与简便操作，既能减轻用户的各类操作负担，又能确保观察工作的稳定进行。
3、通过多元功能组合，满足多样化应用场景
设备标配电子束断层扫描功能，可通过TEM连续倾斜成像对样品进行三维结构解析。同时提供多种可选功能，包括：用于与光学显微镜相关性分析的“CLEM（Correlative Light and Electron Microscopy）系统”、用于观察冰包裹样品等冷冻样品的“低温系统”、用于元素分析的“扫描透射电子显微镜（STEM：Scanning Transmission Electron Microscope）”和“EDS（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy）元素分析”等。可根据客户的研究目的与解析需求，提供多方位的适配设备。
